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產(chǎn)品名稱：FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀
- 產(chǎn)品型號：
- 產(chǎn)品廠商：深圳時代之峰科技有限公司
- 產(chǎn)品文檔：
FT-341雙電測電四探針方阻電阻率測試儀-之峰
FT-361A低阻雙電四探針測試儀-之峰
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀
應(yīng)用說明：
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜
導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻
半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率
導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀描述：
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計參考國標單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M
標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀參數(shù)資料
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規(guī)格型號 |
FT-341 |
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1.方塊電阻 |
10^-5～2×10^5Ω/□ |
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2.電阻率 |
10^-6～2×10^6Ω-cm |
|
3.測試電流 |
0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
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4.電流精度 |
±0.1% |
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5.電阻精度 |
≤0.3% |
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6.顯示讀數(shù) |
屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
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7.測試方式 |
雙電測量 |
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8.電源 |
輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
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9.誤差 |
≤3%（標準樣片結(jié)果） |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻. |
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11.測試探頭 |
探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
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12.標準電阻（選購） |
規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
標準配置外訂購明細：
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序號 |
型號 |
品名 |
單位 |
數(shù)量 |
備注 |
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1 |
340-CSX |
測試線 |
套 |
1 |
|
|
2 |
09A |
標準電阻 |
個 |
1-5 |
選購規(guī)格和數(shù)量 |
|
3 |
06A |
四探針測試平臺 |
套 |
1 |
含探頭1個 |
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4 |
06B |
四探針探頭 |
個 |
1 |
方型或直線型選購 |
|
5 |
340-TTZ |
鍍金彈簧銅針4根 |
組 |
1 |
4根為一組 |
|
6 |
340-WTZ |
彈簧鎢針4根 |
組 |
1 |
4根為一組 |
|
7 |
340-RJ |
分析軟件 |
套 |
1 |
|
|
8 |
PC |
電腦+打印機 |
套 |
1 |
依據(jù)客戶要求配置 |
|
9 |
300-JL |
檢測技術(shù)服務(wù) |
份 |
1 |
計量證書1份 |
|
10 |
WDCGQ |
溫度傳感器 |
套 |
1 |
常溫-125度 |
|
|
341-YB |
延保服務(wù) |
年 |
1-3 |
|